半导体二极管

发展了一种红外发光二极管(IRED)辐射波长和强度的积分式(非分光)测试技术。它采用两只不同光谱响应的光电探测器,一只探测器的相对光谱响应在足够宽光谱范围内修正成常数,另一只探测器电按要求用滤光器修正。辐射强度可由相对光谱响应为常数的探测器测量;通过对测得的两个光探测器光电流之比与波长关系的数据进行处理,可以快速获得 IRED的辐射波长。以 MCS-51单片机和上述两个光电探测器及它们的有关电路组成了一台样机实现这个原理。仪器具有高速实时,稳定性好及智能化的优点。