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可靠性基础、质量管理与控制

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摘要 2001751密封器件内部气氛测试技术[刊]/吴文章//电子产品可靠性与环境试验.—1999,(5).—36.～39(AC)2001752美国半导体器件的失效率及其计算方法[刊]/彭苏娥//电子产品可靠性与环境试验.—1999,(5).

出处《电子科技文摘》 2000年第2期5-6,共2页 Sci.& Tech.Abstract

关键词管理与控制电子产品可靠性环境试验通信网可靠性测试技术半导体器件密封器件计算方法内部气氛失效率

分类号 TN [电子电信]

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2000年第2期

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