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可靠性基础、质量管理与控制
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摘要
2001751密封器件内部气氛测试技术[刊]/吴文章//电子产品可靠性与环境试验.—1999,(5).—36.~39(AC)2001752美国半导体器件的失效率及其计算方法[刊]/彭苏娥//电子产品可靠性与环境试验.—1999,(5).
出处
《电子科技文摘》
2000年第2期5-6,共2页
Sci.& Tech.Abstract
关键词
管理与控制
电子产品可靠性
环境试验
通信网可靠性
测试技术
半导体器件
密封器件
计算方法
内部气氛
失效率
分类号
TN [电子电信]
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