摘要
Y99.61803.72 2002842用于减少时序电路 IDDQ 观察时间的有效技术=Eff-cient Technjques for reducing IDDQ observation time forsequential circuits[会,英]/Higami,Y.& Saluja,K.K.//Proceedings of the 12th International Conference ofVLSI Design.—72～77(EZ)Y99-61803-78 2002843树形电路的 IDDQ 可测试性=IDDQ-testabjlity of treecircuitS[会,英]/Blanton,R.D.//Proceedings of the12th International Confefence of VLSI Design.—78～86(EZ)
出处
《电子科技文摘》
2000年第2期94-95,共2页
Sci.& Tech.Abstract
