摘要
Y99-61803-91 2002947对伪固定型故障与泄漏故障模型的比较研究=A com-parative study of pseudo SIUCk-at and Ieakage fault model[会,英]/Zaehariah,S.T.& Chakravarty,S.//Pro-ceedings of the 12th InternationaI Conference of VLSIDesign.—91~94(EZ)Y99-61803-250 2002948测试Ⅱ(含五篇文章)=TestingⅡ[会,英]//Proceed-rags of the 12th International Conference of VLSI De-sign,—250~275(EZ)本部分收录五篇论文。
出处
《电子科技文摘》
2000年第2期102-103,共2页
Sci.& Tech.Abstract