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化合物半导体
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摘要
Y2000-62066 00053931998年砷化镓可靠性讨论会会议录=Proceedings ofGaAs reliability workshop[会,英]/JEDEC JC-14.
出处
《电子科技文摘》
2000年第4期8-10,共3页
Sci.& Tech.Abstract
关键词
化合物半导体
非掺杂半绝缘
砷化镓
收录论文
可靠性
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分类号
TN [电子电信]
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