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化合物半导体

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摘要 Y2000-62066 00053931998年砷化镓可靠性讨论会会议录=Proceedings ofGaAs reliability workshop[会,英]/JEDEC JC-14.
出处 《电子科技文摘》 2000年第4期8-10,共3页 Sci.& Tech.Abstract
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