自动测试及其系统

导出

摘要 Y2000-62031-74 0006495SPICE 特性测试掩模及测试数据库的自动产生=Au-tomated generation of SPICE characterization test masksand test databases[会,英]/Kasel,L.& Mcandrew,C.C.//1999 IEEE International Conference on Microelec-tronic Test Structures.—74～79(AZ)

出处《电子科技文摘》 2000年第4期94-94,共1页 Sci.& Tech.Abstract

关键词自动测试测试数据库特性测试掩模检测系统仪表系统测控技术理工大学自动化立体车库停车泊位

分类号 TN [电子电信]

引文网络
相关文献

1程开芳,程进,曹茜.红外探测器光谱响应测试数据库[J].实用测试技术,1998,24(5):20-22.
2赵佶.Vishay发布新款高功率、高速红外发射器[J].半导体信息,2013(2):17-17.
3ADI推出新款业界领先的宽带RF增益模块[J].中国集成电路,2013,22(7):41-41.
4ADA4927：差分放大器[J].世界电子元器件,2008(12):39-39.
5ADL5544等：RF放大器增益模块[J].世界电子元器件,2013(8):24-24.
6周兆庆,吴凯,曹玉保.基于Labview的光耦测试数据库验证系统研究[J].中国集成电路,2015,24(9):66-69.
7数据转换器[J].电子设计技术 EDN CHINA,2005,12(12).
8陈森林.电磁干扰对仪表系统的影响及解决方案[J].中国化工贸易,2012,4(2):242-243. 被引量：2
9ADI推出新款宽带RF增益模块[J].单片机与嵌入式系统应用,2013,13(7):88-88.
10刘文辉.STEPPER通用测试掩模的设计及使用[J].半导体情报,1995,32(3):34-39.

电子科技文摘

2000年第4期

浏览历史

内容加载中请稍等...

自动测试及其系统

相关作者

相关机构

相关主题

浏览历史