摘要
Y2000-62261 00132971999年 IEEE 自动测试会议录=1999 IEEE autotest-con[会,英]/IEEE.—1999.—830P.(PC)本次会议由 IEEE 主办,于1999年8月30日～9月2日在得克萨斯召开。该会议录共收录130多篇论文。内容涉及新千年的测试技术,其中包括基于模型的系统,分布式系统,信息基本结构的进展,基于知识的系统,,非军用测试,测试系统设计,自动测试设备,先进的测试方法,自动测试系统标准化,未来的流行测试系统,武器测试,测试生成技术,以及新测试方法等。
出处
《电子科技文摘》
2000年第8期80-80,共1页
Sci.& Tech.Abstract
