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摘要 0013755谈谈金属外壳检验项目的合理性[刊]/韩强//电子产品可靠性与环境试验.—2000,(2).—40~42(L)本文阐述了金属外壳检验项目的合理性,并对外壳检验项目中易同器件(要求)产生分歧之处提出了自己的看法。参10013756混沌控制:回顾与展望[刊]/胡德文//国防科技大学学报.—2000,22(1).—77~80(E)
出处 《电子科技文摘》 2000年第8期121-122,共2页 Sci.& Tech.Abstract
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