摘要
Y2000-62295 00141671999年 IEEE 第七届集成电路物理与失效分析国际研讨会会议录=1999 IEEE proceedings of 7th internation-al symposium on the physical & failure analysis of inter-grated circuits[会,英]/IEEE Electron Device Society.—IEEE,1999.—162P.(EC)本会议录收集了于1999年7月5～9日在新加坡召开的集成电路物理与失效分析研讨会上发表的42篇论文,内容涉及失效分析技术,工艺与器件,封装与金属化,介电材料,热载流子,静电应力/静电放电与锁存器,专用器件的物理分析与可靠性。Y2000-62344 00141681999年 IEEE
出处
《电子科技文摘》
2000年第9期7-7,共1页
Sci.& Tech.Abstract
