摘要
Y2000-62327-384 0016250磁心测试=Session 7A:core test[会,英]//1999 IEEEInternational Conference on Computer Aided Design.—384～398(PC)本部分收入3篇论文。题名为:基于磁心的片上系统测试框架,基于磁心的系统测试调度和消除数据相关用的部分机内自测插入。0016251FAAS 测定铜对 CaS DCEL 粉末包铜工艺的指导[刊]/任新光//发光学报.—2000,21(2).—156～158(E)0016252多孔硅的表面碳膜钝化[刊]/李宏建//发光学报.—2000,21(2).—104～108(E)报道对多孔硅(PS)进行碳膜(CF)
出处
《电子科技文摘》
2000年第10期30-30,共1页
Sci.& Tech.Abstract
