摘要
Y2000-62358-520 0018393通过屏蔽材料的信号线与电源线对屏蔽特征的减弱=Deterioration in shield characteristics by signal lines andpower lines passing through shield material[会,英]/Miyazaki.C.& Oka,N.//1999 International Sympo-sium on Electromagnetic Compatibility(EMC’99).—520~523(PC)介绍了电子设备屏蔽设计技术。作为减弱屏蔽特性的一种因素,把衰减归因于通过屏蔽材料的信号线和电源线。描述了这两种线对屏蔽特性的影响。
出处
《电子科技文摘》
2000年第11期48-49,共2页
Sci.& Tech.Abstract