摘要
Y2000-62040-837 0020070测试和自测(含3篇文章)=Session TB5:testing andself-testing[会,英]//Proceedings of 16th IEEE Instru-mentation and Measurement Technology Conference,Vol.2.-837～855(F)本部分收录3篇文章。题目是:基于大缺陷的MOS 电路测试的新方法,集成电路高速自测的有效方法,用于 VLSI 机内自测的新型空间压缩方法。
出处
《电子科技文摘》
2000年第12期33-35,共3页
Sci.& Tech.Abstract
