摘要
Y2000-62575-216 0104387芯片上模/数和数/模转换器测试用的机内自测法=ABIST Scheme for on-chip ADC and DAC testing[会,英]/Huang,J.-L.& Ong,C.-K.//Proceedings of Design,Automation and Test in Europe Conference 2000.—216～220(ZC)
出处
《电子科技文摘》
2001年第3期77-78,共2页
Sci.& Tech.Abstract
