可靠性工程与环境工程

Y2000-62536 01054452000年 IEEE 国际可靠性物理学会议录=2000 IEEEinternational reliability physics symposium[会,英]/IEEEElectron Devices Society and IEEE Reliability Society.—IEEE,2000.—455P.(PC)本次会议由 IEEE 电子器件学会与 IEEE 可靠性学会联合主办,于2000年4月10～13日在加州圣何塞召开。该会议录共收录60多篇论文。内容涵盖介质,热载流子,微电机械系统,器件与过程.封装.化合物半导体,静电放电.互连,过程感应损伤,以及失效分析等。