摘要
Y2000-62536-123 0105901微光学衰减器的非接触可靠性试验=Nontactile relia-bility testing of a micro optical attenuator[会,英]/Rem-be,C.& Aschemann.H.//2000 IEEE InternationalReliability Physics Symposium.—123~128(PC)研究了为光纤中光传播交换与衰减而开发的微光电机械开关的可靠性。证明了与基于模型的图象顺序评价相结合的高速电影显微照相,是微电机械系统(MEMS)动态过程可靠性测试的有效诊断工具。
出处
《电子科技文摘》
2001年第4期45-45,共1页
Sci.& Tech.Abstract