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摘要 Y2000-62525-531 0109381聚合物厚膜电阻器的低频噪声:体积分析与接触效应=Low-frequency noise of polymer thick-film resistors:analysis of volume and contact effects[会,英]/Kolek,A.& Dziedzic,A.//2000 IEEE Proceedings of 22nd Inter-national Conference on Microelectronics.Vol.2.—531~534(EC)N2001-07069 0109382电子情报通信学会技术研究报告:可靠性 R99-32~41(信学技报,Vol.99,No.643)[汇,日]/日本电子情报通信学会.—2000.02.—60P.(L)本文集为机电器件的可靠性专辑,收录的10篇论文主要涉及:开关电弧发光光谱的空间分布,铜接点离开时电弧的分光温度测量,电气接点损伤的数值评价研究,电气接点时铜蠕变现象分析,顺序相关形故障逻辑分析,非接触型 IC 卡的耐久性试验,多处理机等的故障检测与可靠性,接点材料的发展与问题,光纤的光潜噪声及其在光纤中的应用技术,交通与噪声问题现状与展望。N2001-07070 0109383电子情报通信学会技术研究报告:机电器件 EMD99-82~91(信学技报,Vol.99,No.644)[汇。
出处 《电子科技文摘》 2001年第6期12-14,共3页 Sci.& Tech.Abstract
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