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印制电路、微模组件
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摘要
0113131逻辑再优化设计方法[刊]/罗晓春//计算机自动测量与控制.—2001,9(3).—41~43,48(K)本方法应用于超大规模集成电路的设计过程。逻辑分解的优化是这一过程中的重要步骤。优化后产生主题图质量的好坏,直影响到最后的设计结果。
出处
《电子科技文摘》
2001年第8期21-21,共1页
Sci.& Tech.Abstract
关键词
超大规模集成电路
主题图
计算机自动测量
优化设计方法
逻辑分解
优化问题
设计过程
方法应用
微模组件
印制电路
分类号
TN [电子电信]
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