摘要
Y2001-62799-193 0113393磁光静态事件检测器技术的进展=Advances in magne-to optical static event detector technology [会,英]/Jack-sen, N. & Nelsen, L.//Electrical Overstress/Electro-static Discharge Symposium Proceedings, 2000.—193～201(PC)证明了磁光静态事件检测器(SED)对于检测损坏MR 和 GMR 头的低水平瞬时现象是一种有用的工具。描述了磁光膜特性、器件设计和圆片制造方法的改进,这将提高其对于瞬时现象的灵敏度。还介绍了封装与性能的改进,给出了试验结果与模拟数据。
出处
《电子科技文摘》
2001年第8期46-46,共1页
Sci.& Tech.Abstract
