摘要
SPIE-Vol.3764 01148011999年 SPIE 会议录,卷3764:紫外与 X 射线探测光谱学及偏振测量法,3=1999 proceedings 0f SPIE,Vol3764:Ultraviolet and X-ray detection.spectroscopy,andpolarimetry,Ⅲ[会,英]/SPIE-The International Societyfor Optical Engineering.—1999.—288P.(EC)本会议录收集了于1999年7月19~20日在科罗拉多州 Denver 召开的紫外与 X 射线探测光谱学和偏振测量法会议上发表的28篇论文,内容涉及半透明多层极化器制造及在软 X 射线椭圆计中的应用,反射光学中超紫外区域校准方法.基于硅 PIN 二极管和漂移探测器的 X 射线偏振计,硅光电二极管探测器。太阳日晕探测任务,SOHO 任务中 UVCS 探测器平面场,超导遂道结。
出处
《电子科技文摘》
2001年第9期15-15,共1页
Sci.& Tech.Abstract