摘要
0118545一种改善 DDS 性能的倍频方法[刊]/谭姝静//电子技术应用.—2001,27(6).—44～46(E)0118546梯形取样鉴相频率合成器的 Hopf 分岔集[刊]/谭永明//桂林电子工业学院学报.—2001,21(2).—15～17(E)分析和研究梯形取样鉴相频率合成器环的分岔现象,根据 Ushio 与 Hira 等人的方法,从理论上证明了当系统参数满足一定条件时,系统会出现分岔现象,具体计算出系统在各个不动点处的 Hopf 分岔集。
出处
《电子科技文摘》
2001年第11期31-31,共1页
Sci.& Tech.Abstract
