光电子技术

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摘要 SPIE-Vol.3835 01204541999年 SPIE 会议录,卷3835:三维成象,光学计量学和检验,5=1999 proceedings of SPIE,Vol.3835:Three-dimensional imaging.optical metrology,and in-spection V[会,英]/SPIE-the Intemational Society forOptical Engineering.—1999.—224P.(EC)

出处《电子科技文摘》 2001年第12期15-16,共2页 Sci.& Tech.Abstract

关键词三维成象光学计量会议录激光相位多普勒光电子技术光学探测激光散射几何光学近似和检验衍射极限

分类号 TN [电子电信]

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