摘要
Y2002-63138 02124552001年 IEEE 国际可靠性物理会议录=2001 IEEE in-ternational reliability physics symposium proceedings[会,英]/IEEE Electron Devices Society and the IEEE Relia-bility Society.—2001.—464P.(E)本会议录收集了于2001年4月30日～5月3日在佛罗里达州 Orlando 召开的可靠性物理会议上发表的66篇论文,内容涉及半导体产品可靠性。
出处
《电子科技文摘》
2002年第7期5-5,共1页
Sci.& Tech.Abstract
