摘要
Y2002-63079-71 0212803外围I/O ASIC I/O 单元布局与电检验方法=I/O cellplacement and electrical checking methodology for ASICwith peripheral I/Os[会,英]/Yasar,G.& Chiu,C.//Proceedings of the 2001 IEEE 2nd International Syrnpo-
出处
《电子科技文摘》
2002年第7期32-32,共1页
Sci.& Tech.Abstract
