摘要
Y2002-63121-1 0218267应用2级线性反馈移位寄存器和异步测试码模式变换的低价高效机内自测试方法=Low cost and high effi-cient BIST scheme with 2-level LFSR and ATPT [会,英]/Yoo, S. -M. & Jung, S. -O.//The IEEE Interna-tional Symposium on Circuits and Systems Vol. 4 of 5.—1～4(HE)
出处
《电子科技文摘》
2002年第9期83-84,共2页
Sci.& Tech.Abstract
