摘要
Y2002-63243 02205892001年 IEEE 频率控制会议录=2001 IEEE interna-tional frequency control symposium & PDA exhibition[会,英]/IEEE Ultrasonics,Ferroelectrics and Frequen-cy Control Society.—2001.—847P.(E)本会议录收集了于2001年6月6~8日在华盛顿Seattle 召开的频率控制会议上发表的142篇论文,内容涉及原子标准,THz 源,噪声、频率及时间转换与时间度量,声表面波在 LGTX 衬底上参数测量,非均匀材料与 SAW 器件相关特性,Langasite 单晶,合成石英晶体生长晶格缺陷,晶体谐振器高温声学损耗,传感器。
出处
《电子科技文摘》
2002年第10期84-84,共1页
Sci.& Tech.Abstract