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摘要 Y2002-63234-275 0300334提高大规模集成电路成品率故障分布特征算法=CharacteriFation algorithm of failure djstribution for LSIyield improvement[会,英]/Sugimoto,M.& Tanaka,M.//2001 IEEE Intemational Symposium on Semicon-ductor Manufacturing.—275～278(E)

出处《电子科技文摘》 2003年第1期23-24,共2页 Sci.& Tech.Abstract

关键词故障分布 ductor 测试性设计设计验证 Tanaka 结构相似性电子技术应用遥感图像压缩电子产品可靠性集成芯片

分类号 TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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