机电组件

Y2002-63302-101 0302670超薄 MOS 电容器的退火效应=Annealing effects on ul-trathin MOS capacitors[会,英]/Ng,A.C.-H.& Xu,J.//2001 IEEE Hong Kong Electron Devices Meet-ing.—101～105(E)Y2002-63333-2244 0302671纳米电机系统中纳米级电磁机械的模拟、分析和控制=Modeling,analysis,and control of nanoscale electro-magnetic machines in nanoelectromechanical systems[会,英]/Lyshevski,S.E.& Lyshevsk,M.A.//Proceed-ings of the 2001 American Control Conference Vol.3 of6.—2244～2248(HE)0302672RF-MEMS 电感三维衬底耦合的扩展 PEEC 法分析[刊]/龙海波//电子学报.—2002,30(9).—1308～1312(C) Y2002-63302-101 0302670超薄 MOS 电容器的退火效应=Annealing effects on ul-trathin MOS capacitors[会,英]/Ng,A.C.-H.& Xu,J.//2001 IEEE Hong Kong Electron Devices Meet-ing.—101～105(E)Y2002-63333-2244 0302671纳米电机系统中纳米级电磁机械的模拟、分析和控制=Modeling,analysis,and control of nanoscale electro-magnetic machines in nanoelectromechanical systems[会,英]/Lyshevski,S.E.& Lyshevski,M.A.//Proceed-ings of the 2001 American Control Conference Vol.3 of6.—2244～2248(HE)0302672RF-MEMS 电感三维衬底耦合的扩展 PEEC 法分析[刊]/龙海波//电子学报.—2002,30(9).—1308～1312(C)0302673基于超程时间减小速率建模的电磁继电器可靠性寿命分析方法的研究[刊]/翟国富//电子器件.—2002,25(3).—301～304(L)电磁继电器触点的磨损和老化是影响继电器可靠性的重要因素之一。超程时间的减小是电磁继电器触点磨损和老化的主要表现形式。本文提出以超程时间减小速率为随机变量,建立了电磁继电器可靠性寿命分析数学模型,给出了寿命可靠度计算方法。实例计算结果表明,该模型是有效的。参6一种使用平面线圈结构的微型电磁继电器[刊]/张宇峰//电子器件.—2002,25(3).—214～219(L)本文介绍一种采用平面线圈结构的微型电磁继电器的制造工艺和理论分析。这种继电器的大小大约是4min×4mm×0.5mm,工艺比较简单,主要采用光刻、蒸镀、电镀和腐蚀牺牲层等普通的微加工技术来完成全部制作工艺。因此可以大大地降低继电器的生产成本、物理尺寸和制造的复杂性。另外,还进行了一些有关线圈通过激励电流后对活动电极产生电磁力的理论计算和仿真,利用这些结果可以对这种电磁继电器的结构和参数进行优化设计。参40302675电爆炸断路开关[刊]/龚兴根//强激光与粒子束.—2002,14(4).—577～582(E)叙述了金属导体电爆炸的物理过程,分析了金属导体电爆炸时电阻率与比作用量、压力、能量、密度、爆炸产物膨胀速度、导体电流密度及周围介质等影响因素的关系,从而确定电爆炸断路开关的一般设计原则。参90302676功率连接器故障分析与模拟[刊]/罗国平//中国邮电高校学报(英文版).—2002,9(3).—79～80(E)0302677电流监测在笼型异步电动机转子故障诊断中的应用[刊]/王旭红//长沙电力学院学报(自然科学版).—2002,17(3).—41～43(K)