失效物理

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摘要 0306943破坏性物理分析(DPA)技术促进国产电子元器件质量提高[刊]/徐爱斌//电子产品可靠性与环境试验.—2002,(5).—58～60(D)简要介绍了破坏性物理分析(DPA)技术的概况和发展,重点介绍了信息产业部电子第五研究所 DPA 实验室应用 DPA 技术促进国产军用电子元器件质量提高的几个实际例子。

出处《电子科技文摘》 2003年第4期3-4,共2页 Sci.& Tech.Abstract

关键词失效物理破坏性物理分析电子产品可靠性环境试验继电器线圈信息产业灵敏继电器自动化学报半导体激光器失效分析

分类号 TN606 [电子电信—电路与系统]

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