逻辑电路、脉冲电路

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摘要 Y2002-63279-228 0312122建立在用于数字器件立方代数基础上的检验生成和故障模拟方法=Test generation and fault sireulation meth-ods on the basis of cubic algebra for digital devices[会,英]/Hahanov,V.& Babich,A.//2001 IEEE Sympo-sium on Digital Systems Design.—228～235(TE)Y2002-63279-318

出处《电子科技文摘》 2003年第6期33-33,共1页 Sci.& Tech.Abstract

关键词逻辑电路脉冲电路数字器件数字系统混合电路 BIST ALGEBRA 成本计算故障模拟 CUBIC

分类号 TN791 [电子电信—电路与系统]

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