基本电路

本会议录收集了会上发表的223篇论文,内容涉及2维冗余半导体存储器机内自修方法,I/O 速度测试,1149.1测试逻辑分析与评价,IDDQ 测试系统,优化测试数据压缩混合编码,多故障诊断,基于核的系统芯片测试控制结构,模拟电路测试,嵌入式处理机核RT 级软件自测,数字测试核应用:光电子测试台和硅片级探测器,FPGA 互连测试,混合信号负载的自动诊断程序生成。