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2016第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议征文通知(ISTAI'2016)

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摘要 由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学主办的"2016第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议"将于2016年9月19~21日在中国北京举办。会议旨在为自动化测试与仪器领域的专家学者、科研人员、技术工程师搭建了解测试测量领域国际前沿技术的平台,研讨面向工业4.0和互联网+的智能测控技术,增强国内学术界、产业界同国际同行间的交流和合作。届时来自世界各地的代表们将欢聚一堂,探讨本领域科技创新、行业发展趋势、热点技术应用、交流学术成果,增进相互间的了解和沟通。
出处 《国外电子测量技术》 2016年第4期16-16,共1页 Foreign Electronic Measurement Technology

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