微区褪色检测技术

北京科技大学科技史与文化遗产研究院和耶鲁大学文化遗产保护学院、西安交通大学、中国博物馆协会藏品保护专业委员会联合举办的“博物馆展示用光及微区褪色检测技术国际研讨会”于2015年5月26～27日在北京成功召开。本次研讨会及培训班是一次集学术交流、成果展示、技术培训于一体的国际学术交流活动。