NI亮相2016Semicon中国半导体展,推出增强版半导体测试管理软件

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摘要可自定义的现成测试执行软件增加了多站点设备功能、报告生成和分选机/探针台接口,实现更智能的测试系统2016年3月15日—NI（美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI）作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商,今日亮相2016Semicon中国半导体展,并宣布推出TestStand半导体模块,

出处《电子测量技术》 2016年第3期145-145,共1页 Electronic Measurement Technology

关键词半导体测试 NI SEMICON 增强版测试系统分选机半导体制造商演示系统代码复用测试管理

分类号 TN307 [电子电信—物理电子学]

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