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E公司M产品MOS管失效分析

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摘要 本文研究的是E公司M产品MOS管失效分析,寻找关键失效因子对产品失效进行分析,准确、高效的定位产品失效的具体原因并给出解决措施,同时通过失效分析经验积累,为E公司建立应用预期失效分析消除产品技术状态潜在失效的方法。
作者 陈岚
出处 《电子世界》 2016年第11期143-144,共2页 Electronics World
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