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分立器件测试中的失效与预防措施
被引量：
1
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摘要
本文总结了分立器件的几种主要的失效模式和失效原因,着重提出了在测试中避免避免器件失效的若干措施。
作者
齐增亮
罗友哲
雷云飞
王小龙
机构地区
陕西省电子信息产品监督检验院
出处
《电子技术与软件工程》
2016年第12期134-134,共1页
ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
关键词
分立器件
半导体器件
失效
测试
分类号
TN303 [电子电信—物理电子学]
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电子技术与软件工程
2016年 第12期
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