X射线荧光光谱法测定化学成分分析

X射线荧光光谱测定方法是利用熔融片制样消除矿物结构效应来降低基体效应对元素测定的影响，有效提升测定结果的准确性。因而有效掌握熔样条件和确定仪器参数是保证X射线荧光光谱测定准确性的关键。本文主要对铁矿石测定为例。对X射线荧光光谱测定方法进行了分析讨论。