摘要
以弹上设备装机后剩余下来的同批次的3种典型晶体振荡器为研究样本,开展晶体振荡器贮存寿命评估技术研究。依据相关标准进行加速老化试验,对试验数据进行处理,运用数学方法对晶振的长期退化趋势进行拟合,并根据拟合曲线计算预测得出长期老化值,结合器件详细规范的失效阈值来评估或等效推算器件的贮存寿命,并对比了IEC和GJB两种方法评估得出的老化数据,从而为整个弹上设备的贮存延寿提供确切的晶体振荡器的寿命数据,以及为其他晶体振荡器或者相似的其他类型器件贮存寿命评估提供相应的参考依据。
出处
《质量与可靠性》
2016年第3期4-7,共4页
Quality and Reliability