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光束分析仪测量高阶拉盖尔高斯光束暗区半径研究

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摘要 理论推导高阶拉盖尔高斯光束暗区半径随拓扑数变化的表达式,利用光束分析仪测量拉盖尔高斯光束的暗区半径,比较了理论和实验测量的结果,分析产生误差的原因.
出处 《中国设备工程》 2016年第8期57-58,共2页 China Plant Engineering
基金 佛山科学技术学院优质课程"光电信息与技术实验"、2013年"创新强校工程-教学类"精品资源共享课程"光源与照明专业实验" 佛山科学技术学院优秀青年教师培养项目.
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