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电子测试系统的接口技术探讨
被引量:
1
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摘要
本文分析了市场中较为常见的S—100标准化接口、RS—232串行标准化接口总线、IEEE—488标准接口总线和VXI接口总线等电子测试系统的接口技术,以期为推动电子测试系统接口技术的进一步发展提供借鉴。
作者
赵建兵
孙明
朱天社
李坤明
赵美超
机构地区
西北工业集团有限公司
出处
《电子制作》
2016年第06X期10-10,共1页
Practical Electronics
关键词
电子测试系统
接口技术
分类号
TN06 [电子电信—物理电子学]
引文网络
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新发展环境下电子测试系统的接口技术的发展[J]
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黄理瑞,朱金明.
电子测试系统中接口技术研究分析[J]
.数字技术与应用,2014,32(7):112-112.
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侯中原.
电子测试系统接口技术[J]
.电子技术与软件工程,2016(23):105-105.
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曾晓华,张宁丹.
电子测试系统接口技术研究[J]
.科技创新导报,2009,6(10):77-77.
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侯中原.
电子测试系统接口技术[J]
.电子技术与软件工程,2016(23):105-105.
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王凌.
电子测试系统的接口技术的分析[J]
.电子技术与软件工程,2013(18):156-156.
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刘小海.
新发展环境下电子测试系统的接口技术的发展[J]
.电子测试,2013(12):125-126.
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刘小海.
新发展环境下电子测试系统的接口技术的发展[J]
.电子测试,2013,24(11X):273-274.
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电子制作
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