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是德科技晶圆级解决方案平台完美集成低频噪声测量 全新的先进低频噪声分析仪提供独特的晶圆器件噪声测量和建模功能

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摘要 是德科技公司(NYSE:KEYS)宣布推出最新款的高性能先进低频噪声分析仪(A-LFNA),旨在实施快速、准确、可重复的低频噪声测量。该版本配备全新用户界面,并与是德科技的Wafer Pro Express软件紧密集成——这是一款对半导体器件执行自动化晶圆级测量的平台。作为这一大框架的组成部分,
出处 《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2016年第7期999-999,共1页 Journal of Electronic Measurement and Instrumentation
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