摘要
是德科技公司(NYSE:KEYS)宣布推出最新款的高性能先进低频噪声分析仪(A-LFNA),旨在实施快速、准确、可重复的低频噪声测量。该版本配备全新用户界面,并与是德科技的Wafer Pro Express软件紧密集成——这是一款对半导体器件执行自动化晶圆级测量的平台。作为这一大框架的组成部分,
出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
北大核心
2016年第7期999-999,共1页
Journal of Electronic Measurement and Instrumentation