期刊文献+

单片机RAM检测算法的改进

下载PDF
导出
摘要 介绍单片机RAM芯片常见的检测算法,分析其在地址总线或数据总线故障的情况下无法检测出故障等问题,并针对该问题设计了改进的RAM检测算法,提高了单片机RAM故障检测的能力。
作者 张家欢 王强
出处 《自动化应用》 2016年第9期67-68,共2页 Automation Application
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献5

  • 1A J Vande Goor. Using March Tests to Test SRAMS. IEEE Design & Test of Computers, March 1993, 10(1): 8~14.
  • 2R Dekker, F Beenker, L Thijssen. A Realistic Fault Model and Test Algorithms for Static Random Access Memories.IEEE transaction on CAD, June 1990, 9(6): 567~572.
  • 3A J Vande Goor, I S Tlili. March Tests for Word-oriented memories. IEEE Proceedings of Design, Automation and Test in Europe, Feb. 1998: 501~508.
  • 4W L Wang, K J Lee, J F Wang. An On-Chip March Pattern Generator for Testing Embedded Memory Cores. IEEE Transaction on VLSI Systems, Oet. 2001, 9(5): 730~735.
  • 5W L Wang, K J Lee. A Programmable Data Background Generator for March Based Memory Testing. IEEE Proceedings of Asia-Pacific Conference on ASIC, Aug. 2002:347~350.

共引文献3

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部