NI STS增强RF测量功能,进一步降低半导体测试成本

NI公司宣布为半导体测试系统（STS）增加了全新的RF功能，使其可提供更高的收发功率、以及基于FPGA的实时包络跟踪（Envelop Tracking）和数字预失真处理（Digital Pre-Dis-tortion）。