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2016中国国际无损检测与分析测试仪器展览会

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摘要 2016中国国际无损检测与分析测试仪器展览会于2016年11月28~30日在北京国家会议中心召开。本次展会将邀请国内外政府机构,资深专家学者出席论坛并作专题报告,展会期间将举办高级研讨会暨新产品新技术发布会。吸引众多专业人士,为中外先进技术、设备、经验的交流及行业的发展起到很大的推动作用。
出处 《仪表技术》 2016年第11期11-11,共1页 Instrumentation Technology

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