摘要
全新的NI WiGig测试解决方案有助于推动数千兆位低延迟无线芯片组的开发新闻发布-2016年10月25日-NI(美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI)作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商,近日推出全新的802.11ad或者WiGig测试解决方案的技术预览,该解决方案专门针对毫米波测试这一新兴领域开发了诸多新功能。
出处
《电子测量技术》
2016年第10期177-177,共1页
Electronic Measurement Technology