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泰克推出Keithley S540功率半导体测试系统
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摘要
2016年10月27日,泰克科技公司日前推出Keithley S540功率半导体测试系统,这是为高达3kV的功率半导体器件和结构提供的一种全自动48针参数测试系统。全集成S540是为用于最新复合功率半导体材料而优化的,包括金刚砂(SiC)和氮化镓(GaN),可以在一个探头接人中执行所有高压测试、低压测试和电容测试。
出处
《国外电子测量技术》
2016年第10期103-103,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
关键词
功率半导体器件
参数测试系统
泰克
半导体材料
高压测试
电容测试
低压测试
全自动
分类号
TN303 [电子电信—物理电子学]
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国外电子测量技术
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