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X射线粉末衍射的发展与应用——纪念X射线粉末衍射发现一百年(续前) 被引量:1

Development and Application of X-ray Powder Diffraction——To Commemorate the Discovery of X-ray Powder Diffraction for One Hundred Years(Continued)
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摘要 3.2表面与薄膜的结构分析用其他材料在基底材料的表面涂膜或对基底材料进行某种表面处理(如氧化、渗氮、喷丸等)来改变材料表面的化学组成、结构和性能,以适应对材料性能的要求,是当前材料工业中常用的方法。研究和测定改性后表面材料的组成、结构和性质很重要,X射线衍射是一种重要和常用的方法。但是,这些表面薄膜或多层膜的厚度都很小,为纳米量级。
作者 马礼敦
机构地区 复旦大学
出处 《理化检验(物理分册)》 CAS 2016年第11期793-796,共4页 Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)
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引证文献1

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