基于多扫描链的片上网络测试集归并方法

电路集成度在不断上升,电路测试的数据量也越来越大,为解决因此造成的自动测试设备(ATE)存储容量和带宽之间的矛盾,提出了一种复用片上网络(No C)架构,多扫描链测试集归并算法,提高了测试可访问性。将扫描链长度长但数量相同的测试集合并短的测试集,逐步将所有不同的测试集归并成一个测试集。实验表明,与同类经典方案相比,该方案的归并压缩率提高了7.6%。