用氧化陷阱引起的释放电流改进快闪存储器保持能力的分析
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2002年第4期62-62,共1页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
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1郭忠元,刘景全,芮岳峰,朱正罕,邱可可,杨春生.基于FPGA的微刺激器设计[J].电子测量技术,2009,32(11):95-98. 被引量：2
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2邱可可,刘景全,郭忠元,朱正罕,王龙飞,杨春生.基于CC2430的无线可植入微刺激器电路研究[J].计算机测量与控制,2011,19(4):898-901. 被引量：4
