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机械工业仪器仪表综合技术经济研究所专家参与IEC/SEG7智能制造系统评估组工作组会议

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摘要 IEC/SEG7智能制造系统评估组首次会议于10月12日在德国法兰克福召开,来自美国、德国、法国、中国、日本、韩国等国家的40多位专家出席了会议。机械工业仪器仪表综合技术经济研究所(ITEI)副总工王春喜博士参加了此次会议。
出处 《仪器仪表标准化与计量》 2016年第5期I0011-I0011,共1页 Instrument Standardization & Metrology
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