全新参数分析仪降低特性分析复杂度

全面集成的Keithley 4200A-SCS参数分析仪，通过降低新用户或偶尔使用的用户面临的特性分析复杂度，简化测试设置，提供清楚精确的结果，加快了用户获得半导体器件、材料和工艺洞察力的速度。Keithley 4200-SCS参数分析仪已经取得了巨大的成功，在此基础上，新推出的4200A-SCS仪器采用现代工业设计，拥有全新图形用户界面及多种自学工具，如仪器内嵌的专家指导视频。